雙頭針一般又叫半導體測試探針(高頻探針)主要應用于IC testing inBGA，micro BGA, CSP socket, ..etc. 

其應用頻率為500MHz ,測試中所采用的針的數量須根據具體BGA IC與其Socket規格不同而不同, 

Testing Socket的間距有0.4/ 0.5/ 0.65/0.75/ 1.0/1.27 2/2.54mm pitch不等。主要應用行業如手機、

電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬

芯片封裝測試行業。那么那么小的針是如果固定使用的呢？下面就由深圳市華榮華電子科技有限公司

為你解答：

雙頭針的測試夾具就是分三部分組裝，上下護板和中間模板。中間模板正常是鉆孔比針管外徑大0.05-0.1mm

的孔徑。上下護板鉆孔尺寸比針頭大0.03-0.05mm（個例不包括）同時目前比較細小的雙頭針夾具會考慮

下護板與中間模板做一體。鉆臺階孔形式。然后上護板屬于單獨分離體。扣合集成整套測試夾具。

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